倾佳电子深度洞察AIDC电源系统技术演进与SiC MOSFET应用价值分析
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执行摘要
人工智能数据中心(AIDC)的兴起,正驱动一场前所未有的供电革命。面对AI算力需求的爆发式增长,传统数据中心(DC)的单机柜功率从典型的5-10千瓦飙升至30-50千瓦,在某些高性能计算(HPC)场景下甚至超过125千瓦 。这种指数级的功率密度增长对电源系统提出了严峻挑战,核心痛点在于传统供电架构多级转换带来的高损耗和低效率。
为应对这些挑战,AIDC的供电架构正加速向高压直流(HVDC)和54V配电网络(PDN)演进。HVDC通过简化从市电到服务器的配电链路,将系统效率提升至95%甚至97.5%以上 。在服务器内部,54V PDN则解决了传统12V系统因高电流导致的高I²R损耗和散热难题,将功率损耗降低了16倍,并允许使用更小、更轻的线缆,从而实现更高的功率密度 。
在此技术演进中,碳化硅(SiC)MOSFET作为新一代宽禁带功率半导体,扮演着至关重要的角色。凭借其宽禁带、高临界击穿场强和高热导率等优异物理特性,SiC器件在AIDC电源的关键拓扑结构,如交错式图腾柱PFC和LLC谐振DC/DC转换器中,展现出巨大的应用价值。SiC不仅能实现极低的导通和开关损耗,还能在高频下稳定工作,从而帮助电源系统实现更高的效率和功率密度。
倾佳电子的核心结论是,SiC技术并非可有可无的“锦上添花”,而是AIDC电源系统实现可持续高密度、高效率和高可靠性的必然选择。未来的AIDC电源设计将是热-电协同的,模块化、高效率的SiC电源产品将与先进的液冷技术深度融合,共同构建下一代智能、绿色的数据中心基础设施。
1. AIDC电源供电架构的演进与核心挑战
1.1 人工智能算力对数据中心供电的新需求
随着人工智能技术的迅猛发展,算力已成为数字经济时代继热力、电力之后的重要生产力 。全球大模型的快速迭代和应用普及,使得数据中心迎来了前所未有的IT负载增长。这不仅体现在对计算资源的庞大需求上,更直接地体现在对供电系统的革命性挑战上。
首当其冲的是功率密度的飞跃。传统数据中心单机柜功率通常在5-10千瓦(kW)之间,主要为通用服务器供电 。然而,AI训练和推理所需的高性能计算(HPC)服务器,其功耗是传统服务器的4到8倍 。因此,AIDC单机柜的功率密度已飙升至30-50千瓦,在某些极端场景下甚至可达到惊人的125千瓦 。这种密度上的巨大变化,意味着电源系统必须在有限的空间内处理更大的功率,同时控制由此产生的热量,这从根本上改变了电源设计的核心考量。
与此相伴的是AI服务器电源的单位价值量大幅提升。据国信证券经济研究所整理的数据显示,AI服务器电源(AC/DC)的单位功率密度和价值量是传统服务器电源的4倍以上 。这一现象表明,电源系统不再仅仅是数据中心基础设施中被动适配的角色,其性能高低直接影响到计算能力的释放和整体运营成本(TCO)。高损耗、低效率的电源不仅会吞噬宝贵的电能,还会产生巨大的散热负荷,进一步增加冷却成本,从而直接侵蚀AI算力的实际可用性和经济效益。因此,电源系统的角色已从“保障”转变为“核心生产力”,其设计必须从过去的“稳定可靠”转变为“极致高效、高度集成、可管理”,并与AI芯片和冷却系统进行深度耦合。
1.2 供电架构从传统AC到高压DC的演进
传统数据中心的供电链路通常冗长且低效。电力从市电(AC)进入后,会经过不间断电源(UPS)进行AC-DC和DC-AC的双向转换,再通过配电单元(PDU)进行分配,最终由服务器内部的电源单元(PSU)再次将AC转换为服务器主板所需的低压直流(DC) 。这一多级转换路径在每一步都会产生能量损耗,累积下来导致系统整体效率低下。
为解决这一固有缺陷,高压直流(HVDC)供电架构应运而生。HVDC通过简化供电链路,直接将高压直流分配到机柜,从而减少了AC-DC和DC-AC的多次转换环节,显著提升了系统效率。有数据显示,HVDC转换的效率可高达95%以上 。更为先进的集成化方案,如阿里巴巴与台达、中恒电气联合推出的“巴拿马电源”,通过融合配电、变压器和直流输出单元,进一步将系统效率提升至97.5%,同时大幅缩减了占地面积和链路复杂度 。
另一个值得关注的演进方向是中压不间断电源(MV-UPS)。例如,ABB为满足AI数据中心的高密度需求,推出了HiPerGuard中压UPS系统 。该系统在高达24千伏(kV)的电压下运行,效率高达98%,在标准的15年使用寿命内,可减少多达1245吨的二氧化碳排放 。MV-UPS的优势不仅在于其极高的转换效率,更在于其在系统层面的综合效益。由于中压下的电流较小,所需电缆尺寸也相应减小,这使得铜材料用量可减少高达90%,显著降低了基础设施成本 。同时,它简化了低压配电基础设施,减少了冷却需求,并因保护的负载块更大、转换级别更少,从而提升了系统的固有可靠性 。
这些案例共同说明,未来的AIDC电源架构设计将不再局限于单一的电源效率,而是会从系统层面考量能源效率、材料成本、占地空间、散热需求等多重因素,寻找最优解。HVDC和MV-UPS正是这种系统级思维的产物,它们通过在配电端提高电压,从根本上降低了整个系统的电流,进而减少了线缆规格,缩小了占地面积,并降低了散热负荷。
1.3 服务器内部供电的48V革命
在服务器机柜内部,传统的12V配电网络(PDN)正日益成为瓶颈。随着CPU/GPU功耗的持续飙升,12V供电系统需要传输的电流也急剧增加,由此带来的I²R损耗和热量剧增已成为严重问题 。过高的电流需要更粗的线缆和更大的连接器,进一步增加了空间占用和成本,并加剧了散热挑战。
为突破这一瓶颈,数据中心行业正在积极转向48V PDN。相比于12V系统,48V PDN的优势非常显著:在相同的功率水平下,48V系统中的电流仅为12V系统的四分之一,这意味着I²R损耗将降低16倍 。这种大幅降低的损耗直接转化为更低的散热需求和更高的系统效率 。
此外,48V系统在物理和架构上也带来了一系列优势:
物理优势: 降低的电流使得电缆和连接器可以做得更小、更轻,成本也更低,从而提高功率密度,并改善热管理 。
架构优势: 48V系统天然支持分布式供电架构,即使用模块化的电源组件进行供电 。这种分布式电源管理(DPEM)架构与AI负载的模块化、动态可变特性高度匹配,能够实现更灵活、更具冗余和可扩展性的电源系统设计 。每个负载(如CPU或GPU)附近都可以配置专用的负载点(PoL)转换器,从而提供更精确的稳压性能,这是传统集中式电源所难以比拟的 。
综上所述,48V PDN不仅仅是电压的改变,更代表着电源管理哲学的根本性转变,从笨重、集中的转换器转向灵活、可扩展的分布式模块化供电 。这种演进为电源模块供应商提供了巨大的市场机会,同时也对器件的集成度、尺寸和效率提出了更高要求。
2. AIDC电源产品分类与主流拓扑结构解析
2.1 AIDC电源产品核心分类
AIDC的供电系统是一个复杂的、多层级的架构,其中的电源产品可按功能和位置分为以下几类:
不间断电源(UPS): UPS的主要作用是在市电中断时为IT设备提供备用电力,确保系统持续运行 。传统的UPS多为低压系统,而面对AIDC的高功率密度,新兴的中压UPS(如ABB的HiPerGuard)正通过其高效率和在配电端进行转换的优势,为AI数据中心提供更可靠、更节能的电力保护方案 。
配电单元(PDU): PDU不产生电力,而是负责将上游电源(如地板PDU或HVDC)分配到机柜和机架的IT设备 。PDU主要分为两种类型:水平PDU通常安装在机架内部,占用1U或2U空间,提供8-16个插座;垂直PDU则安装在机架的背面或侧面,不占用关键设备空间,可容纳多达54个插座,是目前更主流的类型 。为满足AIDC的精细化管理需求,PDU正向智能化发展,出现了具备远程监控、能源管理和插座级开关控制功能的智能PDU 。
服务器电源(PSU): 服务器电源是最终将电能转换为IT设备可用电压的单元。它通常包括一个AC/DC转换器,负责将HVDC或交流电转换为12V或48V的直流电;以及一系列板载DC/DC转换器,将12V或48V进一步降压至CPU、GPU等芯片所需的低压直流。
2.2 主流电源转换拓扑结构深度分析
在AIDC电源系统中,有两个主流的电源转换拓扑结构对效率和功率密度至关重要:
交流-直流(AC/DC)部分:交错式图腾柱PFC 传统的功率因数校正(PFC)电路使用二极管桥,导致在整流过程中产生导通损耗。图腾柱PFC则通过用两个半桥代替传统的二极管桥,从而消除了这一损耗,显著提高了效率 。交错式图腾柱PFC通过使用多个并联的相位同步工作,进一步降低了输入电流的纹波,并提升了整体效率 。
这种拓扑结构的关键优势在于其高效性,但它对开关器件有极高的要求,需要能够在高频下快速开关且损耗极低的器件。这正是SiC MOSFET的理想应用场景,因为传统硅(Si)器件无法满足其高速开关的需求 。
直流-直流(DC/DC)部分:LLC谐振转换器 LLC谐振转换器之所以成为AIDC的主流DC/DC拓扑,是因为它能在宽负载和电压范围内实现零电压开关(ZVS) 。其工作原理是利用变压器的漏感和磁化电感与外部电容形成谐振,从而在开关器件导通时实现零电压,大大减少了开关损耗。
SiC MOSFET的出现,彻底释放了LLC转换器的潜力。SiC器件的高速开关特性使得LLC转换器能够在500kHz甚至高达1.5MHz的频率下稳定工作 。这带来的直接好处是变压器和无源器件的体积和重量可以减少50%以上,极大地提高了功率密度 。此外,SiC MOSFET的ZVS操作产生的串扰非常小,允许驱动电路无需负偏压驱动,从而简化了电路设计并降低了成本 。
LLC谐振转换器在500kHz下的峰值效率可接近98.5% ,这在AIDC对效率有严苛要求的环境中尤为重要。
交错式图腾柱PFC和LLC谐振转换器并非全新的拓扑,但传统硅器件受限于其高开关损耗和反向恢复损耗 ,无法在AIDC所需的高频率、高功率密度下高效工作。SiC MOSFET通过其优越的物理特性,使这些拓扑得以大规模商用,从而在系统层面实现了效率和密度的大幅提升。这种拓扑结构与器件技术之间的共生关系,是AIDC电源技术演进的核心驱动力。
3. AIDC电源关键技术要点与性能指标
3.1 功率密度:从器件到系统层面的优化
AIDC对功率密度的需求,已成为推动电源技术创新的核心力量。功率密度的提升是一个系统性的工程,需要从器件、模块到系统层面进行多重优化。
器件层面: SiC MOSFET通过其高临界击穿场强和高热导率的物理特性,实现了高电流密度和低导通损耗 。这使得SiC芯片能够在更小的面积内处理更大的电流和电压,从而实现了更小芯片尺寸和更紧凑的封装,从根本上提高了器件的功率密度 。
模块层面: 为了集成多个SiC芯片以处理更高功率,先进的模块封装技术至关重要。BASiC Semiconductor的BMF系列模块采用了低杂散电感设计,并使用了Si3N4陶瓷基板 。这种陶瓷基板提供了出色的功率循环能力和热导性能,是实现高功率密度模块的关键 。此外,B3M系列分立器件采用了银烧结(Silver Sintering)技术,可以提供比传统焊料高出六倍的热导率,从而有效降低结-壳热阻,提高了散热能力 。
系统层面: 功率密度在系统层面的优化,则得益于48V配电架构和高频拓扑的协同作用。48V系统通过降低电流,减小了线缆和连接器的尺寸和重量,为机柜内部腾出了宝贵的空间 。同时,高频开关拓扑(如LLC谐振转换器)使得电感、电容和变压器等无源器件的体积可以大幅缩小 ,从而在整个电源系统层面实现了功率密度的最大化。
3.2 转换效率:损耗分解与优化策略
电源转换效率是衡量AIDC电源系统性能的另一个关键指标,其高低直接决定了数据中心的能源利用率和运营成本。电源转换中的主要损耗包括导通损耗(Pcond)和开关损耗(Psw)。SiC MOSFET在这两方面都表现出显著优势。
导通损耗(Pcond):主要由器件的导通电阻(RDS(on))决定。SiC器件通过其高临界击穿场强,允许采用更薄的漂移层和更高的掺杂浓度,从而在保持耐压能力的同时,实现了比硅器件更低的RDS(on) 。例如,BASiC Semiconductor的BMF系列模块,其$R_{DS(on)}$典型值低至2.5 mΩ ,这能有效降低大电流下的导通损耗。
开关损耗(Psw):主要由器件开关过程中的电压和电流重叠以及二极管的反向恢复损耗决定。SiC MOSFET的开关损耗极低,这主要归功于以下两点:
零反向恢复(Zero Reverse Recovery):SiC MOSFET内置的肖特基势垒二极管(SBD)几乎没有反向恢复电流(Qrr) 。这消除了传统硅器件在开关过程中因反向恢复电流导致的巨大能量损耗,从而使其在高频硬开关应用中表现出卓越的性能 。
低栅极电荷(QG):SiC器件的低电容和低栅极电荷特性,意味着其开关所需的驱动能量更少,从而进一步降低了开关损耗 。
对SiC器件开关损耗温度特性的分析显示,其在高热环境下仍能保持低损耗特性。例如,BMF240R12E2G3模块的数据显示,其开通开关能量(Eon)从25°C时的7.4 mJ降至150°C时的5.7 mJ,而关断开关能量(Eoff)基本保持稳定 。这种开通损耗随温度升高而减小的独特特性,使得SiC器件在高热环境下仍能保持出色的效率。
3.3 热管理:从风冷到液冷/浸没式冷却的必要性与技术路径
AIDC高功率密度的挑战,本质上也是热管理的挑战。单机柜超过50kW甚至100kW的功率,使得传统风冷已无法有效散热,导致设备出现“局部热点”,甚至发生停机 。这使得液冷技术成为AIDC的必然选择,包括冷板液冷、后门热交换器和浸没式冷却等解决方案,其中浸没式冷却可提供高达80kW的冷却能力 。
在这一背景下,SiC器件的热管理优势至关重要:
物理特性: SiC材料的热导率是硅的3倍以上 。这一优异的导热性能使得SiC芯片能够高效地将热量从芯片内部传导至外部封装,从而降低器件的内部结温,并耐受高达175°C的最高结温 。
封装技术: 为了将SiC芯片的优越热性能转化为系统优势,封装技术必须进行优化。BASiC Semiconductor的BMF系列模块采用了热导率极高的$Si_{3}N_{4}$陶瓷基板和铜基板,以实现更优化的热传导路径 。同时,其结-壳热阻( Rth(j−c))被设计得非常低,例如BMF540R12KA3的典型值仅为0.07 K/W 。
高功率密度同时加剧了电和热的挑战。SiC器件通过其高效率和高热导率特性,从源头减少了热量产生,并增强了散热能力。但最终,AIDC的极致功率密度仍需要液冷。未来的电源设计将是热-电协同的,电源模块本身可能需要与液冷板直接集成,或采用能够适应浸没式冷却环境的封装。这种协同设计是AIDC发展的关键,电源设计者必须同时考虑电源转换效率和热阻,才能实现真正的系统级优化。SiC的特性完美契合了这种协同设计理念。此外,BMF系列模块中集成NTC温度传感器 ,也说明了电源模块设计已将精细化的热管理纳入考量,能够为AI驱动的智能冷却系统提供实时数据支持 。
4. SiC MOSFET在AIDC电源中的应用价值深度剖析
4.1 碳化硅(SiC)的物理特性与核心优势
SiC MOSFET之所以能够在AIDC电源领域大放异彩,源于其独特的宽禁带物理特性,这些特性赋予了它远超传统硅器件的性能优势:
宽禁带(Wide Bandgap): SiC的禁带宽度是硅的约3倍,这使得它在高温下,电子不易发生跃迁,本征激发弱,从而能够耐受更高的工作温度 。SiC器件的理论工作温度可达400°C以上,而目前商用器件的结温可达175°C,远高于硅器件 。这种耐高温特性显著提升了器件在AIDC高热环境下的可靠性,同时降低了高压下的漏电流 。
高临界击穿场强: SiC的临界击穿场强是硅的约10倍 。这一特性使得SiC器件能够承受更高的电压,并允许采用更薄的漂移层 。漂移层的减薄在保持高耐压能力(如1200V)的同时,显著降低了器件的导通电阻,从而降低了导通损耗 。
高热导率: SiC的热导率是硅的3倍以上 。这使得SiC芯片能将大电流产生的热量高效传导出去,从而实现了更高的电流密度和更小的芯片尺寸。这一优势不仅提高了器件的功率密度,也为系统设计者提供了更大的灵活性,例如在实现同等散热效果的情况下,可以使用更小的散热器 。
4.2 SiC MOSFET器件性能量化分析与数据驱动洞察
通过对BASiC Semiconductor提供的多款SiC MOSFET数据表进行分析,可以量化SiC器件的性能优势,并将其与AIDC电源系统的实际需求相结合。
导通电阻(RDS(on))分析:
不同产品线对比: 提供的BMF系列模块涵盖了从60A到540A的多种电流等级 ,其典型导通电阻在25°C时从21.2 mΩ降至2.5 mΩ 。这表明通过模块化封装中的芯片并联,可以显著降低 RDS(on),以适应AIDC对大电流的需求。
温度特性: 对比BMF80R12RA3的数据,其$R_{DS(on)}$从25°C的15.0 mΩ上升至175°C的26.7 mΩ 。这种随温度升高的趋势,是所有半导体器件的固有特性,但SiC的增幅相对可控。这种数据为电源设计者提供了热设计的重要参考,帮助他们在不同工作温度下精确评估导通损耗。
开关损耗(Eon,Eoff)分析:
温度特性: BMF240R12E2G3的数据显示,其开通开关能量(Eon)从25°C时的7.4 mJ降至150°C时的5.7 mJ,而关断开关能量(Eoff)基本保持稳定 。这与传统硅器件的开关损耗随温度升高而增加的特性形成了鲜明对比,表明SiC器件在高热环境下仍能保持低损耗特性,有效减缓了高热环境下的开关损耗增加。
反向恢复特性(trr,Qrr)分析:
量化零恢复: BMF008MR12E2G3数据表明确指出其内置二极管具有“Zero Reverse Recovery from Diodes” 。这一特性对于避免高频开关中的能量损耗至关重要。例如,B3M013C120Z分立器件在25°C时的典型反向恢复电荷( Qrr)仅为390 nC 。极低的$Q_{rr}$意味着可以采用极短的死区时间,进一步提高开关频率,并减小无源元件的体积 。
封装与热性能:
热阻对比: 对比不同模块的结-壳热阻(Rth(j−c)),例如BMF540R12KA3的0.07 K/W 和BMF60R12RB3的0.70 K/W ,这清晰地说明了封装技术对热性能的决定性影响。更低的热阻意味着热量能更有效地从芯片传导到散热器,从而允许器件在更高功率下稳定工作。
集成传感器: BMF008R12E2G3和BMF240R12E2G3模块集成了NTC温度传感器 ,这种设计为AIDC的高级热管理提供了便利。系统可以通过实时监测温度数据来动态调整运行状态,从而实现能源效率和可靠性的最大化。
每一个SiC器件的参数都直接映射到系统层面的优势。例如,低$R_{DS(on)}$和低开关能量(Esw)意味着更高的系统效率 ,从而降低了冷却成本 。低栅极电荷( QG)和低反向恢复时间(trr)意味着可以采用更高的开关频率 ,从而减小无源元件体积,提高功率密度 。高栅极阈值电压( VGS(th))则提高了器件的抗干扰能力,增强了系统可靠性 。因此,在选择SiC器件时,设计者应将其视为一个综合的系统性能优化工具,而非仅仅是硅器件的替代品。
表1:SiC与Si功率器件核心性能对比
特性SiC MOSFET传统 Si MOSFET材料特性 禁带宽度约3.2 eV(Si的3倍)1.12 eV临界击穿场强约2.5-3 MV/cm(Si的10倍)0.2-0.3 MV/cm热导率约4.9 W/cm-K(Si的3倍)约1.5 W/cm-K最高工作结温175°C(商用),理论>400°C150-175°C器件性能 导通电阻 (RDS(on))在同耐压下显著更低较高开关损耗极低(低$C_{iss}$和$Q_G$)较高(高$C_{oss}$和$Q_G$)反向恢复零恢复(Zero Reverse Recovery)存在显著恢复损耗栅极阈值电压 (VGS(th))较高,通常>3V较低,通常<3V系统优势 开关频率可达数百kHz至MHz级受限于开关损耗,通常<200kHz功率密度显著更高(小尺寸无源器件、小封装)较低冷却需求较低(源头降损)较高系统成本单器件成本高,但系统总成本(TCO)低单器件成本低,但系统总成本高
5. AIDC电源技术与市场发展趋势展望
5.1 模块化供电与分布式电源管理(DPEM)的未来
AIDC供电架构的未来趋势,将是模块化供电与分布式电源管理(DPEM)的深度融合。48V PDN、模块化DC-DC转换器和分布式架构正成为主流方向 。这种趋势的背后逻辑是,模块化设计能够提供更高的可扩展性、热管理优势和系统冗余 。SiC器件通过其高效率和高功率密度特性,完美契合了DPEM架构对电源模块小型化、标准化和高效率的苛刻需求,是实现这一趋势的关键使能技术。
5.2 与高级冷却技术的深度融合
随着AIDC单机柜功率密度持续攀升,电源系统与冷却技术的深度融合将成为必然。SiC的耐高温特性和优越的热性能为这种融合提供了基础。未来的电源模块可能不再是独立的“黑盒子”,而是直接与液冷板集成,甚至采用能够适应浸没式冷却液的环境封装。这种设计将从根本上优化热传导路径,实现电源系统与冷却系统的高效协同。
此外,电源系统的智能化也将与冷却技术紧密结合。例如,利用人工智能模型(如DCGPT)来实时优化冷却控制策略 。DCGPT通过分析来自电源模块(如集成NTC温度传感器 )和服务器的实时传感器数据,能够动态调整风扇和泵的转速,将冷却能耗降低25%,同时确保设备在最佳温度下运行,实现能源效率和可靠性的最大化 。
5.3 智能化与AI驱动的电源管理
未来的AIDC电源管理将不仅是硬件层面的优化,更将走向智能化。AI和机器学习模型,如DCGPT,已经被用于优化数据中心的能源使用、管理工作负载,甚至进行设计和动态建模 。这些模型能够处理海量数据,并生成可行的洞察,从而在AIDC的设计、运维和优化阶段发挥核心作用。
展望未来,DCGPT等大语言模型(LLM)将在AIDC电源管理中发挥更大的潜力,例如:
设计优化: 通过提示词生成符合复杂电源、冷却和网络基础设施要求的数据中心设计方案,并进行“假设分析” 。
动态运维: 实时诊断故障,预测潜在的设备失效,并根据负载变化动态调整电源模块的运行参数,以最大化效率。
这种AI驱动的电源管理模式将进一步提高能源利用效率和系统可靠性,是AIDC电源技术发展的终极方向。
6. 结论与策略建议
6.1 结论
AIDC的崛起已将电源系统推向了技术创新的前沿。传统的供电架构和硅器件已无法满足AI算力对高功率密度、高效率和高可靠性的严苛需求。高压直流(HVDC)和48V配电网络(PDN)的架构演进,从系统层面为电源革命奠定了基础。在此基础上,SiC MOSFET凭借其在效率、功率密度、热管理和可靠性方面的代际优势,已成为新一代AIDC电源系统的基石。SiC器件并非简单的替代品,而是通过其优越的物理特性,释放了交错式图腾柱PFC和LLC谐振转换器等先进拓扑的潜力,从而实现了系统级的性能飞跃。
深圳市倾佳电子有限公司(简称“倾佳电子”)是聚焦新能源与电力电子变革的核心推动者:
倾佳电子成立于2018年,总部位于深圳福田区,定位于功率半导体与新能源汽车连接器的专业分销商,业务聚焦三大方向:
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6.2 策略建议
技术选型: 建议AIDC的电源系统架构师优先考虑采用高压直流(HVDC)配电与PDN的组合架构。这不仅能最大化系统效率,降低I²R损耗,还能为未来更高功率密度的AI负载提供坚实的基础。
器件选择: 在关键的电源转换环节,应优先选择SiC MOSFET器件。在选择时,不应只看单一参数,而应结合应用场景(如PFC或LLC)和功率等级,权衡其导通电阻(RDS(on))、开关损耗、栅极电荷和结-壳热阻等关键参数,选择最合适的模块或分立器件。例如,高功率应用应选择具有低热阻和高电流承载能力的模块化封装。
协同设计: 强调电源设计应与冷却系统、AI负载架构进行深度协同。未来的设计方向是高度集成化、模块化的电源解决方案,能够适应各种高级冷却技术,包括冷板液冷和浸没式冷却,以应对功率密度持续攀升的挑战。同时,通过集成传感器和利用AI技术,实现电源与冷却系统的智能联动,从而进一步提高能源利用效率和系统可靠性。